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Denka®

7 · 試験機関による評価

第三者機関による試験エビデンス

KU Leuven / EnergyVille(ベルギー・ゲンク)— パワーエレクトロニクス研究グループ、2022年11月。

研究者

Ir. Hassan Pervaiz, Ir. Sergio Perez, Prof. Wilmar Martinez

KU Leuven ESAT · EnergyVille · Genk, BE · 2022-11

使用機器

  • ▸ Agilent 4294A 精密インピーダンスアナライザ
  • ▸ Tektronix MDO3054 オシロスコープ
  • ▸ Agilent 33500B 波形発生器

7.1 · 方法

2線式試験ケーブルで1 MHzから30 MHzまで1 MHz刻みのステップ掃引を行い、Denka® Platinum Plateの有無による高周波電圧を比較しました。

f = 1 → 30 MHzΔf = 1 MHzn = 302-wire test cablewith / without plate

7.2 · 結果

1〜30 MHzにわたる広帯域の高周波電圧減衰を確認。減衰は周波数とともに増加し、25〜30 MHz帯でDenka® Platinum Plate 1枚あたり13〜15%(約1.2〜1.4 dB)に達しました。[30]

報告された1枚あたりの減衰
0%5%10%15%20%1 MHz5 MHz10 MHz15 MHz20 MHz25 MHz30 MHz13–15% (≈1.2–1.4 dB)

数値として報告されているのは25〜30 MHz帯の値のみです。低い帯域では周波数とともに増加するより小さな減衰が見られましたが、ステップごとの値はここでは公開していません。

7.3 · 試験の適用範囲に関する注記

SCOPE
本試験は2線式試験ケーブル上の高周波電圧減衰を評価するもので、それ自体で工場レベルの省エネを測定するものではありません。
SCOPE
工場レベルの省エネ成果はサイト固有であり、IPMVPオプションB/Cによる測定・検証で別途確認されます。